Настольный растровый электронный микроскоп SuperSEM N10XL сочетает в себе сверхбольшую камеру для образцов, интеллектуальное управление и стабильную высокую производительность, будучи специально разработанным для удовлетворения разнообразных потребностей в наблюдении за образцами в современном промышленном контроле и научных исследованиях. Его камера для образцов может легко вмещать крупногабаритные или сложные детали диаметром до 100 мм и высотой 80 мм, позволяя пользователям проводить прямой микроанализ целых изделий на месте без необходимости их разрезания или разрушения. Это значительно расширяет возможности для полевого контроля и анализа в таких областях, как полупроводниковая упаковка, металлические материалы, керамические компоненты и батареи для новой энергетики.
Благодаря превосходной простоте использования и надежной производительности, настольный растровый электронный микроскоп SuperSEM N10XL становится идеальным инструментом для микроанализа в сферах контроля материалов, управления качеством, научного образования и корпоративных исследований и разработок, делая передовые технологии растровой электронной микроскопии высокоэффективными, общедоступными и легкодостижимыми.
свободно выбирать диапазон анализа, идентифицировать элементы в различных областях, таких как точки, линии и поверхности на изображении, с отличным алгоритмом визуального анализа и программным обеспечением, реализовать точное разделение близких спектральных пиков, демонстрацию пространственного распределения элементов и другие функции, которые могут быть применены для изучения компоновки интерфейса материала, однородности элементов, диффузии и других характеристик.
Применяется высокочувствительный четырехщелевой детектор электронов обратного рассеяния, независимая визуализация и произвольный синтез сигналов, может дать богатую информацию о составе, хорошую экологическую адаптацию.
Дружественный интерфейс программного обеспечения, простая эксплуатация, интегрированный конденсатор, не нужно вручную регулировать диафрагму, не нужно часто выполнять ось электронного пучка, автоматический контраст яркости, автофокусировка, автоматическое устранение астигматизма, сшивание больших изображений и т. Д. Одним нажатием кнопки. Это позволяет начинающим пользователям быстро начать работу.
Материаловедение и инженерия В материаловедении сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) позволяет четко наблюдать микрорельеф поверхности материала, например, размер и распределение зерен, что помогает исследователям получить предварительное представление о структуре материала. Детектор обратно рассеянных электронов может различать различные фазы материала на основе различий в атомных номерах, обеспечивая основу для фазового анализа. Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС) используется для базового элементного анализа, определяя типы и приблизительное содержание элементов в материале. Эти функции предоставляют важную микроскопическую информацию для предварительного исследования и оценки свойств материалов. |
СЭМ в основном используется для контроля качества и оптимизации технологических процессов. Он позволяет проверять обработочные следы, следы износа и микроскопические дефекты на поверхности деталей, обеспечивая точность и качество продукции; идентифицировать различия в составе материала, помогая обнаруживать примеси или неоднородности материала; а также проводить углубленный анализ состава материала для обеспечения его соответствия проектным требованиям. Это способствует повышению качества продукции, снижению процента брака и оптимизации производственных процессов. |
В биологии Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) может использоваться для наблюдения поверхностной структуры клеток и биологических тканей, четко визуализируя такие детали, как контуры клеток, микроворсинки и др., что помогает исследователям понять морфологию и функцию клеток. Детектор обратно рассеянных электронов способен различать клетки на основе различий в их составе, предоставляя предварительную информацию о внутренней структуре клеток. Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС) может использоваться для анализа распределения элементов внутри клеток, таких как кальций, фосфор и другие, предоставляя базовые данные для исследований биоматериалов и клеточной биологии. |
геология В геонауках сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) позволяет наблюдать форму, размеры и расположение минеральных кристаллов, помогая ученым сделать выводы об условиях формирования минералов, а также различать минеральные компоненты, обеспечивая визуальное представление для анализа состава пород. В сочетании с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (ЭДС) он может использоваться для точного анализа элементного состава минералов и определения их видов. Это предоставляет геологам важные микроскопические доказательства для изучения истории Земли и геологических процессов. |
Новые энергетические материалы В исследованиях новых энергетических материалов сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) предоставляет важную микроскопическую информацию для разработки и оптимизации свойств новых энергетических материалов. Он способен четко отображать размер частиц и поровую структуру электродных материалов батарей, различать различные материальные фазы, что помогает исследователям понять однородность материалов. Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС) может использоваться для анализа состава материалов, обеспечивая их чистоту и однородность. |
металлические материалы В металловедении он позволяет наблюдать микроструктуру металлов, четко визуализируя размер зерен и морфологию границ зерен, что служит основой для понимания базовых свойств металла; а также различать различные фазы, способствуя фазовому анализу. Детектор энергодисперсионной спектроскопии (ЭДС) может анализировать состав металла и обнаруживать примесные элементы. |
| Размер （W×L×H） | 350×620×600 mm |
| >Масса | 66 kg |
| напряжение ускорения | 5 kV、10 kV、15 kV 20 kV |
| Трехмерная мобильная стадия образца | X:±50 mm Y:±50 mm Z:60mm |
| Максимальный размер образца | 200 mm ( диаметр) 60 mm ( толщина) |
| удвоение | × 10 ~ × 100 000 (увеличение фотографии) × 25 ~ × 250,000 (увеличение дисплея) |
| электронная пушка | вольфрамовая нить |
| детектор | Обратно рассеянные электроны: высокочувствительный 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов Вторичный электрон: детектор вторичного электрона EDS: псевдоцветная визуализация энергетического спектра в реальном времени |
| Параметры ЭДС | Тип детектора: кремниевый детектор дрейфа Обнаружение площади: 30mm2 Разрешение: 130eV Диапазон элементного анализа: B-Cf |
| сигнал изображения | обратно рассеянный электрон детектор энергетического спектра вторичный электрон Композитное изображение (обратно рассеянные электроны + вторичные электроны + энергетический спектр в реальном времени автоматическая окраска псевдоцветная визуализация) |
| Вакуумный режим | Электрический проводник (только обратно рассеянные электроны) Стандарт снижение заряда |
