SHINE Исследовательское издание

рентгеновский дифрактометр Mapping SHINE - это портативное рентгеновское дифракционное оборудование, самостоятельно разработанное компанией WaveSound Science путем объединения ряда технологий, таких как XRD, XRF и компьютерное программное обеспечение. Посредством дифракции рентгеновских лучей на образце и анализа его дифракционной картины прибор получает информацию о составе материала, структуре или морфологии атомов или молекул внутри материала (информацию о всей кристаллической фазе, ID основных компонентов материала, второстепенных компонентов или следовых компонентов), что имеет преимущества простой подготовки образца, незагрязненности, быстроты, высокой точности измерений и большого количества информации о целостности кристалла, и является основным методом исследования физических фаз и кристаллической структуры материала. Это основной метод исследования физических фаз и кристаллической структуры веществ.

В Mapping SHINE используется геометрия пропускания в точке прохождения рентгеновского луча через образец. Микрофокусная рентгеновская трубка испускает рентгеновский луч, который проходит через коллиматор и облучает частицы порошка в кювете, а уникальная система вибрации подвергает более кристаллические поверхности частиц порошка воздействию рентгеновского луча, который дифрагирует при выполнении закона Брэгга и таким образом фиксирует дифракционную картину на ПЗС-матрице. Количество образца в кювете фиксировано, поэтому изменение плотности образца не влияет на разрешение. Эта особенность особенно важна для материалов с низкой плотностью, например, фармацевтических образцов, где при фиксированных проникающих свойствах может быть достигнуто более высокое разрешение, чем в приборах, основанных на методах отражательной геометрии.