Настольный сканирующий электронный микроскоп SuperSEM, использующий передовые электронно-оптические технологии, обеспечивает совместный анализ сканирующего электронного микроскопа (SEM) и детекторов энергетической дисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) в режиме реального времени. Технология SEM используется для получения структурной информации о поверхности образца, а ЭДС используется для анализа химических элементов и характеристики. SuperSEM не только упрощает процесс анализа многих материалов, но и обеспечивает высококачественную качественную и количественную информацию о компонентах при получении изображений благодаря наложению распределения цветовых элементов в режиме реального времени на SEM-изображение. Кроме того, SuperSEM оснащен высоким ускоренным напряжением, многоугловым наблюдением и комплектующим программным обеспечением для анализа данных, которое может автоматически фокусироваться, быстро сканировать, наблюдать за распределением элементов образца в режиме реального времени в видеорежиме, чтобы обеспечить точный и эффективный сбор и анализ изображений.
свободно выбирать диапазон анализа, идентифицировать элементы в различных областях, таких как точки, линии и поверхности на изображении, с отличным алгоритмом визуального анализа и программным обеспечением, реализовать точное разделение близких спектральных пиков, демонстрацию пространственного распределения элементов и другие функции, которые могут быть применены для изучения компоновки интерфейса материала, однородности элементов, диффузии и других характеристик.
Применяется высокочувствительный четырехщелевой детектор электронов обратного рассеяния, независимая визуализация и произвольный синтез сигналов, может дать богатую информацию о составе, хорошую экологическую адаптацию.
Дружественный интерфейс программного обеспечения, простая эксплуатация, интегрированный конденсатор, не нужно вручную регулировать диафрагму, не нужно часто выполнять ось электронного пучка, автоматический контраст яркости, автофокусировка, автоматическое устранение астигматизма, сшивание больших изображений и т. Д. Одним нажатием кнопки. Это позволяет начинающим пользователям быстро начать работу.
Материаловедение и инженерия В материаловедении сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) позволяет четко наблюдать микрорельеф поверхности материала, например, размер и распределение зерен, что помогает исследователям получить предварительное представление о структуре материала. Детектор обратно рассеянных электронов может различать различные фазы материала на основе различий в атомных номерах, обеспечивая основу для фазового анализа. Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС) используется для базового элементного анализа, определяя типы и приблизительное содержание элементов в материале. Эти функции предоставляют важную микроскопическую информацию для предварительного исследования и оценки свойств материалов. |
СЭМ в основном используется для контроля качества и оптимизации технологических процессов. Он позволяет проверять обработочные следы, следы износа и микроскопические дефекты на поверхности деталей, обеспечивая точность и качество продукции; идентифицировать различия в составе материала, помогая обнаруживать примеси или неоднородности материала; а также проводить углубленный анализ состава материала для обеспечения его соответствия проектным требованиям. Это способствует повышению качества продукции, снижению процента брака и оптимизации производственных процессов. |
В биологии Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) может использоваться для наблюдения поверхностной структуры клеток и биологических тканей, четко визуализируя такие детали, как контуры клеток, микроворсинки и др., что помогает исследователям понять морфологию и функцию клеток. Детектор обратно рассеянных электронов способен различать клетки на основе различий в их составе, предоставляя предварительную информацию о внутренней структуре клеток. Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС) может использоваться для анализа распределения элементов внутри клеток, таких как кальций, фосфор и другие, предоставляя базовые данные для исследований биоматериалов и клеточной биологии. |
геология В геонауках сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) позволяет наблюдать форму, размеры и расположение минеральных кристаллов, помогая ученым сделать выводы об условиях формирования минералов, а также различать минеральные компоненты, обеспечивая визуальное представление для анализа состава пород. В сочетании с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (ЭДС) он может использоваться для точного анализа элементного состава минералов и определения их видов. Это предоставляет геологам важные микроскопические доказательства для изучения истории Земли и геологических процессов. |
Новые энергетические материалы В исследованиях новых энергетических материалов сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) предоставляет важную микроскопическую информацию для разработки и оптимизации свойств новых энергетических материалов. Он способен четко отображать размер частиц и поровую структуру электродных материалов батарей, различать различные материальные фазы, что помогает исследователям понять однородность материалов. Детектор энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДС) может использоваться для анализа состава материалов, обеспечивая их чистоту и однородность. |
металлические материалы В металловедении он позволяет наблюдать микроструктуру металлов, четко визуализируя размер зерен и морфологию границ зерен, что служит основой для понимания базовых свойств металла; а также различать различные фазы, способствуя фазовому анализу. Детектор энергодисперсионной спектроскопии (ЭДС) может анализировать состав металла и обнаруживать примесные элементы. |
| Версия | SuperSEM N10 | SuperSEM N10eX | SuperSEM N10eV |
| Размер （W×L×H） | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm |
| Масса | 55 kg | 56 kg | 57 kg |
| напряжение ускорения | 5 kV、10 kV、15 kV | 5 kV、10 kV、15 kV | 5 kV、10 kV、15 kV 20 kV、25 kV、30 kV |
| Трехмерная мобильная стадия образца | X:±25 mm Y:±25 mm Z:30 mm | X:±25 mm Y:±25 mm Z:30 mm | X:±25 mm Y:±25 mm Z:30 mm |
| Максимальный размер образца | 90 mm ( диаметр) 40 mm ( толщина) | 90 mm ( диаметр) 40 mm ( толщина) | 90 mm ( диаметр) 40 mm ( толщина) |
| удвоение | × 10 ~ × 100 000 (увеличение фотографии) × 25 ~ × 250,000 (увеличение дисплея) | × 10 ~ × 100 000 (увеличение фотографии) × 25 ~ × 250,000 (увеличение дисплея) | × 10 ~ × 100 000 (увеличение фотографии) × 25 ~ × 250,000 (увеличение дисплея) |
| электронная пушка | вольфрамовая нить | вольфрамовая нить | вольфрамовая нить |
| детектор | Обратно рассеянные электроны: детектор обратно рассеянных электронов с высокой чувствительностью 4 | Обратно рассеянные электроны: высокочувствительный 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов Вторичный электрон: детектор вторичного электрона EDS: псевдоцветная визуализация энергетического спектра в реальном времени | Обратно рассеянные электроны: высокочувствительный 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов Вторичный электрон: детектор вторичного электрона EDS: псевдоцветная визуализация энергетического спектра в реальном времени |
| Параметры ЭДС | / | Тип детектора: кремниевый детектор дрейфа Обнаружение площади: 30mm2 Разрешение: 130eV Диапазон элементного анализа: B-Cf | Тип детектора: кремниевый детектор дрейфа Обнаружение площади: 30mm2 Разрешение: 130eV Диапазон элементного анализа: B-Cf |
| сигнал изображения | обратно рассеянный электрон | обратно рассеянный электрон детектор энергетического спектра вторичный электрон Композитное изображение (обратно рассеянные электроны + вторичные электроны + энергетический спектр в реальном времени автоматическая окраска псевдоцветная визуализация) | обратно рассеянный электрон детектор энергетического спектра вторичный электрон Композитное изображение (обратно рассеянные электроны + вторичные электроны + энергетический спектр в реальном времени автоматическая окраска псевдоцветная визуализация) |
| Вакуумный режим | Стандарт снижение заряда | Электрический проводник (только обратно рассеянные электроны) Стандарт снижение заряда | Электрический проводник (только обратно рассеянные электроны) Стандарт снижение заряда |
