CN EN

© 2021 LANScientific. All Rights Reserved.

Серия INSIGHT (Тип рабочего стола)

Толщиномеры покрытий серии INSIGHT для электронной промышленности

Экспертный элементный анализ ультратонких покрытий на тонких структурах
Толщиномеры покрытий серии INSIGHT для электронной промышленности

процесс, обеспечивающий надежность и стабильность качества продукции в электронной промышленности, его толщина является наиболее важным фактором, гарантирующим качество изделия, поэтому контроль/контроль качества толщины покрытия имеет решающее значение. Рентгенофлуоресценция (XRF) стала широко используемым методом измерения толщины и состава покрытия благодаря своей неразрушающей природе, быстроте измерений и простоте использования.

Разработанный для анализа микроточечных и ультратонких покрытий, DAWN INSIGHT обеспечивает чрезвычайно высокую скорость счета для измерения наноразмерных покрытий на элементах размером менее 50 мкм и дает высокоточные результаты при минимальном времени измерения благодаря использованию высокоинтенсивной капиллярной оптики и высокочувствительного детектора. Он помогает многим отраслям, связанным с производством печатных плат, полупроводников и других электронных устройств, легко решать задачи контроля, связанные с ультратонкими покрытиями, эффективно повышая производительность и обеспечивая соответствие спецификациям, чтобы избежать риска низкой производительности и затрат, связанных с браком или повторной обработкой.


Основные характеристики

Комплект из нескольких коллиматоров

Опциональное автоматическое переключение комбинаций мультиколлиматоров обеспечивает значительную универсальность Hiu INSIGHT для гибкой работы с деталями различных размеров.

Капиллярная оптическая система высокой интенсивности

Опциональная капиллярная оптическая система высокой интенсивности позволяет DAWN INSIGHT измерять наноразмерные покрытия на элементах размером менее 50 мкм, обеспечивая прибору более высокую скорость счета, меньшее пятно измерения и более тонкие покрытия, что помогает удвоить аналитическую эффективность прибора.

Программируемая ступенька для образца с автоматическим смещением

Опциональный автоматический этап позволяет легко автоматизировать измерения, ускоряя подготовку и измерение образцов, что повышает производительность анализа.

Измерение в одно касание

Прибор оснащен интуитивно понятным и интеллектуальным программным обеспечением для анализа, что позволяет любому пользователю тестировать образцы без обучения. Просто нажмите кнопку "Начать тест", и результаты будут готовы всего через несколько десятков секунд.

Высокочувствительный детектор

Для сложных структур покрытий детекторы серии SDD облегчают анализ элементов с характеристиками, аналогичными XRF, с лучшим разрешением, меньшим фоновым шумом (вплоть до отношения S/N) и более точным измерением тонких покрытий.

Автофокус

Автоматически фокусируется на образце за считанные секунды, независимо от толщины или размера, и может измерять образцы с расстояния до 80 мм, что идеально подходит для измерения деталей с углублениями или для измерения нескольких образцов на разных высотах.


Область применения


晓INSIGHT 电子行业版(图1)

Печатная плата

Au/Ni/Cu/ PCB;Sn/Cu/PCB;Au/NiP/Cu/PCB;Ag/Cu/PCB;Sn/Cu/PCB;SnPd/Cu/PCB;Au/Pd/NiP/Cu/PCB



晓INSIGHT PCB、晶圆版(图2)


Покрытие разъемов





晓INSIGHT PCB、晶圆版(图3)

Производство полупроводниковых пластин (полупроводники)





晓INSIGHT 电子行业版(图4)


Свинцовая рамка

Свинцовая рамка - это тонкий металлический каркас, который соединяет контактные площадки чипа внутри полупроводникового интегрального блока и внешние провода, и является основным конструкционным материалом для полупроводниковой упаковки. Для того чтобы обеспечить загрузку/крепление чипа в процессе упаковки, свинцовая рамка нуждается в специальной обработке поверхности, а распространенные элементы покрытия свинцовой рамки включают золото, серебро, палладий, никель и так далее.


INSIGHT PCB、晶圆版(图5)

ENIG

Покрытие никелем/пропитанным золотом (ENIG) является одним из наиболее распространенных видов обработки поверхности, используемых в современном производстве печатных плат. WaveSound Science предлагает эффективные и интеллектуальные XRF-анализаторы, которые помогают клиентам сократить материальные затраты и соответствовать промышленным спецификациям, таким как IPC-4552B, IPC-4556, IPC-4554, IPC-4553A и другим.





Техническая спецификация

особенности

Архитектура измерений "сверху вниз", измерительная платформа XYZ, многослойный алгоритм Muti-FP

Элементарный диапазонNa—Fm
Количество анализируемых слоев5 слоев (4 слоя + подложка), каждый слой может анализировать 10 элементов, композиционный анализ - до 25 элементов
Рентгеновская трубкаМикрофокусная рентгеновская трубка, капиллярная рентгеновская трубка (опция)
ремеслоВысокочувствительный детектор SDD большой площади, детектор SDD 50 мм2 сверхбольшой площади (опция)
коллиматорВозможность выбора нескольких калибров, возможность комбинирования нескольких калибров
Камера

Цветная CMOS-камера высокого разрешения, 5 мегапикселей

Ручной образец XY-стадииДиапазон перемещения:100 x 150 mm
Программируемый XY-каскадДополнительно
Диапазон перемещения по оси Z150 mm
Размер выборочной корзины564mm ×540mm ×150mm(L×W×H)
Габаритные размеры664mm ×761mm ×757mm(L×W×H)
гири120KG
источник питанияAC 220V±5V 50Hz(конфигурация зависит от региона) 
рейтинг150W