Растровый электронный микроскоп (РЭМ) может применяться в свинцово-кислотных аккумуляторах для наблюдения микроскопической морфологии и элементного анализа пластин, активного вещества, решёток и продуктов коррозии. С помощью изображений во вторичных электронах можно чётко отобразить размер частиц и структуру пор диоксида свинца PbO₂ положительного электрода и губчатого свинца отрицательного электрода, а также состояние границы раздела и связь активного вещества с решёткой. В сочетании с энергодисперсионным спектральным анализом можно оценить распределение и накопление элементов Pb, O, S при таких явлениях отказа, как сульфатация, коррозия решётки и отслаивание активного вещества. Данная технология обеспечивает наглядную микроскопическую основу для оптимизации технологического процесса, входного контроля и анализа отказов свинцово-кислотных аккумуляторов.
