В последние годы наноматериалы продемонстрировали огромный потенциал применения в различных областях, включая полупроводники, хранение энергии, катализ, биомедицину и восстановление окружающей среды. Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) играет важную роль в области наноматериалов. Она позволяет непосредственно наблюдать микроструктуру наноматериалов, включая размер частиц, их распределение, однородность и агломерацию. В сочетании с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (ЭДС) СЭМ также может анализировать состав микрообластей наноматериалов, определяя их химический состав. Эти возможности обеспечивают важную техническую поддержку для исследований и разработок, оптимизации характеристик и применения наноматериалов в различных областях.
