В процессе изучения свойств магнитных материалов и совершенствования технологических процессов производства незаменимыми этапами являются микроскопическое наблюдение морфологии и анализ состава. Микроструктурная морфология влияет на структуру магнитных доменов и магнитную анизотропию магнитных материалов, а однородность состава и содержание примесей напрямую определяют качество их магнитных свойств. Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) позволяет четко выявить микроструктуру материалов, такую как размер зерен, фазовое распределение и состояние дефектов, что обеспечивает мощную поддержку для оптимизации процесса подготовки магнитных материалов и повышения стабильности их характеристик. Это способствует достижению более высоких характеристик магнитных материалов в таких областях, как электронные устройства и новые источники энергии.
