Керамические материалы, обладающие превосходной стойкостью к высоким температурам, износостойкостью и коррозионной стойкостью, широко используются в аэрокосмической, электронной и машиностроительной отраслях. В последние годы они развиваются в направлении высокой производительности, многофункциональности и интеллектуальности. Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) играет важную роль в исследованиях керамических материалов, позволяя наблюдать микроструктуру, размер зерен и морфологию керамики, а также анализировать распределение примесей и характеристики поверхности разрушения. В сочетании с энергодисперсионной спектроскопией (ЭДС) она также облегчает качественный и количественный анализ элементов, обеспечивая необходимую техническую поддержку для оптимизации характеристик керамических материалов и разработки новых керамических материалов.
