Рентгеновская дифракция (XRD) позволяет точно определять ключевые характеристики материалов, такие как кристаллическая структура, фазовый состав, параметры решётки, размер кристаллитов, микронапряжения и кристаллографическая ориентация. Этот метод широко применяется в материаловедении, геологии и минералогии, новых источниках энергии, полупроводниковой промышленности, а также в консервации культурного наследия.
