Технология XAFS исследует микросреду и структуру вокруг целевых атомов, измеряя изменение поглощения монохроматического рентгеновского излучения. При достижении энергией излучения порога ионизации внутренних электронов элемента возникает характерная абсорбционная грань. Выше этой грани фотоэлектронная волна интерферирует с волнами, рассеянными соседними атомами, создавая в спектре тонкие колебания. Их анализ позволяет точно определить типы соседних атомов, длины связей, координационные числа и степень неупорядоченности, обеспечивая «атомную фотографию» локального окружения.

Прибор реализует эту мощную методику в обычной лаборатории с помощью высокоинтенсивного источника, монохроматора на изогнутых кристаллах и детектора высокого разрешения, обеспечивая удобный и точный анализ электронной структуры и атомной конфигурации материалов.