В последние годы, благодаря непрерывному развитию науки и техники, был достигнут значительный прогресс в исследованиях металлов, керамики, пластмасс, полупроводников, наноматериалов и биоматериалов. Аналитические приборы играют ключевую роль в открытии, разработке, тестировании и контроле качества материалов, являясь необходимым инструментом в отрасли исследований материалов. Например, рентгеновский флуоресцентный спектрометр с полным отражением (TXRF) широко используется в полупроводниковой промышленности и может использоваться для обнаружения следовых примесей в кремниевых пластинах и полупроводниковых материалах, а также для мониторинга и оптимизации производственных процессов для обеспечения высокой чистоты и согласованности полупроводниковых материалов.
