Посредством рентгеновской дифракции образцов супичных материалов, таких как порошок, монокристаллы или поликристаллы, анализа их дифракционных карт и получения информации о составе материала, структуре или морфологии атомов или молекул внутри материала в настоящее время является наиболее мощным методом изучения фазы и кристаллической структуры материала.
