Волокнистые материалы, как важный класс высокоэффективных материалов, широко используются в аэрокосмической, автомобильной промышленности, производстве спортивного оборудования, медицине и других областях. Сканирующая электронная микроскопия (SEM) широко применяется в области волокнистых материалов, позволяя проводить высокоразрешающее наблюдение морфологии поверхности волокон, такой как диаметр волокон, шероховатость поверхности, трещины, поры и другие детали. Кроме того, в сочетании с такими аксессуарами, как энергодисперсионный спектрометр (EDS), она может выполнять качественный и количественный анализ химического состава волокон. Кроме того, SEM играет важную роль в обнаружении дефектов волокон, исследовании свойств интерфейса, динамическом наблюдении процессов и наномасштабных исследованиях, способствуя оптимизации процессов производства волокон, улучшению качества продукции и прогрессу в области науки о волокнистых материалах и инноваций.
