SEM имеет чрезвычайно важное применение в исследовании металлических материалов. Он может предоставлять изображения морфологии поверхности с высоким разрешением, позволяя исследователям наблюдать микроструктуру металлических материалов, такую как размер зерен, распределение фаз, морфология трещин и дефекты поверхности. С помощью вторичной электронной визуализации SEM может четко показывать микроструктурные изменения в металлических материалах во время обработки, термообработки или коррозии, предоставляя наглядные доказательства для оценки характеристик материала и анализа отказов. Кроме того, в сочетании с функцией энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) сканирующий электронный микроскоп может выполнять элементный анализ металлических материалов, определяя распределение компонентов сплава, тем самым дополнительно проясняя взаимосвязь между свойствами материала и его составом.
